MEMS加工工艺是MEMS技术最为重要的研究方向,MEMS加工工艺主要包括体微加工、表面微加工和光刻、电镀、铸塑工艺(LIGA)。
受限于LIGA工艺的高制造成本,目前应用最广的加工工艺为体微加工、表面微加工两种。
MEMS制造技术是在集成电路(IC)制造技术的基础上,结合微加工技术的进步逐步发展起来的。
与集成电路制造相比,MEMS器件具有三维微结构和可动部件,制造工艺更为复杂。
由于MEMS器件的功能差异,结构形式各不相同,常见的特点包括悬空结构和高深宽比,因此没有单一的制造工艺能满足所有类型的MEMS器件需求。
MEMS的主要制造技术包括表面微加工、体微加工和LIGA技术。
表面微加工通过薄膜沉积、光刻、刻蚀等工艺,逐层在基底上构建微结构,并通过去除牺牲层完成最终形态。
体微加工则通过自上而下的刻蚀,常用湿法刻蚀和干法刻蚀,主要用于制作具有立体结构的MEMS器件。
LIGA技术利用同步X射线设备批量制造高深宽比的微结构。
目前,表面微加工和体微加工是应用最广、技术最成熟的方法。
硅是MEMS制造的主要材料,主要因为硅刻蚀技术的成熟以及其良好的机械性能。
通过硅的各向异性刻蚀,可以根据不同晶向的刻蚀速率形成特定的机械结构,同时硅还能与IC集成,构建更复杂的微系统。
随着MEMS技术的不断发展,新的材料不断被引入,如金属、生物兼容材料和高分子材料等。
除了硅,MEMS加工过程中还需使用刻蚀剂和掩膜材料。
不同的刻蚀方法需要不同的材料,例如湿法刻蚀中常用氢氧化钾(KOH)溶液作为刻蚀剂,二氧化硅(SiO2)作为掩膜材料;而干法刻蚀则常使用六氟化硫(SF6)作为刻蚀剂,同样使用SiO2作为掩膜材料。
体微加工技术指的是在硅衬底上利用各向异性刻蚀技术制造MEMS器件,主要包括湿法刻蚀和干法深刻蚀。
湿法各向异性刻蚀是最早发展起来的微加工技术,它通过化学反应将刻蚀溶液与硅材料作用,进行刻蚀。
而干法深刻蚀则是通过深反应离子刻蚀(DRIE)技术,对硅进行各向异性刻蚀,属于20世纪70年代以来新兴的深刻蚀技术。
湿法刻蚀所需的材料和设备包括刻蚀溶液、反应器皿、控温装置和清洗机等。
常用的各向异性刻蚀溶液有氢氧化钾(KOH)溶液和四甲基氢氧化铵(TMAH)水溶液。
这些碱性溶液对硅的刻蚀速率受晶面影响,不同晶面的刻蚀速率差异尚无明确解释,但普遍认为与晶面上原子键的密度有关。
晶面分子密度越大、分子间距越小,键的数量和强度越高,刻蚀反应所需的能量也越大,因此刻蚀速度越慢。
湿法刻蚀是实验室中广泛应用的加工技术,但在实际操作中,常出现刻蚀表面不平整等问题。
为优化刻蚀效果,研究人员通常通过调整刻蚀溶液的配方和刻蚀条件来改进结果,例如加入异丙醇等添加剂以提高硅表面的平整度,控制刻蚀温度,或调整溶液循环速率等,这些方法有效提升了微机械结构的性能。
干法深刻蚀具有以下特点:
刻蚀速率较高,通常是湿法刻蚀速率的2至15倍;
具备高深宽比,能够穿透整个硅片;
刻蚀速率与晶面方向无关,可以刻蚀出任意形状的垂直结构;
刻蚀选择性强,能够有效保护被刻蚀材料与阻挡材料之间的界面。
干法深刻蚀利用氟化物气体(如六氟化硫,SF6)在放电过程中产生的等离子体进行刻蚀,同时通过引入保护气体,将六氟化硫的各向同性刻蚀转化为各向异性刻蚀,从而实现深刻蚀。
干法深刻蚀主要有两种工艺:Bosch工艺和低温刻蚀工艺。
Bosch工艺通过高频率交替通入刻蚀气体(SF6)和保护气体(八氟环丁烷,C4F8),在交替的刻蚀和保护过程中实现深刻蚀。
低温刻蚀工艺则在通入SF6的同时,加入氧气,氧气产生的等离子体与刻蚀结构的内壁反应,形成SiOxFy保护层,从而在刻蚀和保护作用下同时进行。
由于干法深刻蚀具备高深宽比的优势,现已广泛应用于体微加工技术,能够利用不同的刻蚀气体和保护气氛,刻蚀多种材料,如多晶硅、二氧化硅、金属等,具有很高的应用潜力。
它已广泛应用于微传感器、微执行器、微医疗器件等领域。
相较于湿法刻蚀,干法深刻蚀提供了更大的加工灵活性。
不同的工艺参数,如气体选择、流量、反应环境的压力等,都会显著影响微器件的性能,因此需要根据实际需求精确调整。
表面微加工主要包括薄膜淀积、光刻和刻蚀技术。
薄膜淀积是通过物理或化学方法,在衬底表面沉积一层纳米级或微米级厚度的薄膜;
光刻则是将光学掩模版上的图形转移到衬底表面,利用选择性曝光改变光刻胶的化学性质,再通过显影液溶解变化区域,从而获得所需图形。
在表面微加工中,通过在牺牲层上沉积结构层薄膜,再去除牺牲层释放结构层,实现微结构的可动性。
其主要步骤包括薄膜淀积、光刻图形化、沉积牺牲层薄膜、牺牲层图形化、沉积机械结构层薄膜、机械结构层图形化和去除牺牲层(释放结构)。
表面微加工技术可以制作10µm以内的微结构,并能够实现多层悬空结构,是MEMS制造中不可或缺的技术。
由于其加工结构的特殊性,对器件的力学性能要求较高,同时还需要解决粘连、残余应力、摩擦和驱动等问题。
© 2024. All Rights Reserved. 苏ICP备2022036544号-1